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本章用于建立 Dreapex TMM 的最小可复现操作流程：确认默认模型、完成一次基准计算，并读取第一组频谱结果。写作对象是具有本科层次理工背景的光学初学者，以及需要快速熟悉软件界面的光学工程人员。

本章完成一条最短基准流程：确认默认结构与默认光学参数、执行首次计算、读取首批 R/T/A 与 Layer Absorption 结果，并完成一次基本物理校验。

适用范围

本章只覆盖最短且稳定的操作路径：

1. 在 Structure 中确认默认堆栈。
2. 在 Optics 中确认默认入射条件与探测器。
3. 通过顶部工具栏执行一次普通计算。
4. 在 Logs 中确认任务完成。
5. 在结果页读取第一组曲线。

现阶段不引入外部材料文件、入射光谱、颜色计算、参数扫描或优化。先建立稳定基线，再进入高级功能，效率更高。

界面功能分区

开始第一次计算前，先识别文档中会反复使用的四个界面区域。

使用时可按这个原则理解：左侧负责切页，顶部负责运行，中央负责操作和读结果，底部 Footer 负责先提示校验和诊断状态。

基准模型

store-file.ts 中定义的默认模型可直接用于第一次计算。如果软件当前打开的是其他页面，或恢复了之前的本地草稿，请先切换到 Structure，并确认界面中的模型与下列基线一致。

默认结构包含两层：

默认环境介质为：

• Incidence Medium：Air-in，常数折射率 n = 1
• Transmission Medium：Air-out

默认光学参数为：

第一次运行需要注意两点：

1. 这套默认模型不需要额外导入折射率文件。
2. Layer Absorption 默认已启用，因此基准计算同时给出总能量项和按层吸收结果。

基准操作流程

第一次计算应当作为一次受控的单参数检查进行。推荐只修改 ITO 厚度，其余参数保持不变。

1. 打开 Structure。
2. 确认表格中存在 ITO 和 Substrate 两层。
3. 确认 ITO = 40 nm，Substrate = 1 um。
4. 确认两层均使用 File 折射率模型。
5. 确认 Substrate 的 Tran. 与 Inco. 已启用。
6. 将 ITO 的 Thickness 从 40 改为 60，或改为任意其他正值。
7. 暂不修改其余结构参数。

这种改法适合作为首个练习，因为它只改变一个物理意义明确的变量，同时保持模型有效。对典型薄膜干涉问题而言，厚度变化通常会直接引起可识别的谱线移动。

随后确认光学参数。

1. 打开 Optics。
2. 保持 Incident Angle = 0°。
3. 保持 pRatio = 0.5。
4. 保持波长模式为 Sweep。
5. 保持 From = 400 nm、To = 900 nm、Step = 5 nm。
6. 确认 R、T、A 处于启用状态。
7. 保持 Layer Absorption 启用。
8. 保持 Incident Spectrum 与 Visible Color 关闭。
9. 保持 Depth Resolution = 1 nm / point。

如果此时 Run 仍为禁用状态，说明模型仍有校验错误。应先返回 Structure 或 Optics 修正无效字段，再继续执行计算。

运行与日志确认

在顶部工具栏点击 Run。

标准运行流程如下：

1. 软件提交当前模型进行计算。
2. 界面切换到 Logs。
3. 日志区域显示任务是否已启动、已完成或失败。

第一次运行时，进入结果页之前应先在 Logs 中确认以下事项：

1. 任务已被成功接受并开始执行。
2. 任务已正常完成。
3. 未出现阻断性错误。

如果任务没有启动，通常是因为输入仍未通过校验；如果任务启动但未完成，应先根据日志定位问题，再返回模型页面修正。

结果读取

计算成功后，按以下顺序查看结果页：

1. Reflectance
2. Transmittance
3. Absorptance
4. Layer Absorption

这个顺序是有意设计的。前三项先建立整体能量分配图景，Layer Absorption 再用于判断吸收在膜系内部的分布位置。

读取基准结果时，应关注以下几点：

1. 横轴为波长，默认扫描范围为 400-900 nm。
2. 纵轴为当前所选物理量的归一化结果。
3. 当 ITO 厚度发生变化时，干涉峰谷位置应发生移动。
4. Layer Absorption 可用于判断总吸收主要来自哪一层。

如果某些结果项仍然处于禁用状态，通常表示本次计算未生成该类结果。这是配置结果，不必直接视为软件错误。

基本物理校验

第一次计算完成后，可用以下规则判断结果是否满足基本物理一致性：

1. R、T、A 应保持在合理的归一化范围内；对无增益被动模型，不应出现明显非物理异常。
2. 对同一波长点，R + T + A 应接近 1。
3. 当 Layer Absorption 启用时，各层吸收之和应与总 A 大体一致。
4. 仅修改 ITO 厚度时，曲线应发生变化，但不应导致结果页空白或曲线消失。

若上述检查不成立，建议按以下顺序排查：

1. 确认厚度输入仍为有效正数。
2. 确认 Logs 中显示任务已成功完成。
3. 确认当前会话没有恢复旧草稿，导致模型已偏离本章基线。

首个参数对比

在进入后续章节前，建议先做一次受控对比：

1. 设定 ITO = 40 nm，运行一次，并记录 Reflectance 曲线。
2. 将 ITO 改为 60 nm，再次运行。
3. 对比两次 Reflectance 或 Transmittance 曲线中极值点的位置变化。

这是最适合作为起步练习的对比方式，因为它隔离了单一结构参数，并能在不引入新材料或高级求解设置的前提下，直接展示厚度变化带来的光学响应差异。

下一步

当你能够稳定重复这条基准流程后，建议按以下顺序继续：

1. 阅读 结构配置，理解每一列结构参数及其编辑逻辑。
2. 阅读 光学参数，理解波长模式、探测器分组与光源设置。
3. 随后进入 参数扫描 进行系统参数研究，或继续阅读结果章节进行更细致的结果分析。