深度探测器分析

本页覆盖 Normalized Poynting Vector、Absorption Density、Electric Field 与 Refractive Index。该组探测器用于层内位置分析。系统级结果见 基本光学结果，层级吸收归因见 RTA 与层吸收分析。

对应结果页：

• 深度分布结果
• 基本光学结果

前置条件

探测器分工

适用场景

基线模型

结构

该示例仍使用 ITO 40 nm + Substrate 1 um。与椭偏分析相同，结构保持相干，便于读取层内场分布。

单波长光学参数

波长扫描光学参数

单次运行

Electric Field 线图

该图对应单波长、无 Sweep 参数的结果。横轴为深度，阴影区标出层区域。适合读取：

• 驻波节点和反节点的位置
• 目标层是否位于高场区
• 界面附近是否出现局部增强

该示例中，ITO 层较薄，主振荡发生在基底区。此类结构适合先确认场分布是否进入目标层，再决定是否继续扫厚度。

Normalized Poynting Vector 线图

该图显示不同厚度下的归一化能流沿深度基本保持平稳，仅在不同厚度之间存在整体水平差异。适合读取：

• 能量是否在结构内部平稳传输
• 某些厚度是否引入额外能流损失

Normalized Poynting Vector 更适合与 Absorption Density 联读。单看该图无法判断吸收发生在哪一层。

单参数扫描

扫描设置

Electric Field 热图

该图固定 560 nm，横轴为深度，纵轴为 ITO thickness。适合读取：

• 厚度变化是否推动节点和反节点整体平移
• 高场区是否进入目标层
• 哪些厚度区间的空间分布更稳定

热图是深度结果的主视图。单参数扫描时，热图比线图更适合比较多个结构。

Electric Field 3D 散点图

该图保留 wavelength、depth 与 ITO thickness 三个维度。适合读取：

• 场增强是否沿某一波长-厚度轨迹连续存在
• 极值是局部热点还是连续带状分布
• 不同厚度的共振位置是否系统性漂移

3D 散点图适合识别趋势。局部极值的准确位置仍应回到线图或热图确认。

Absorption Density 热图

该基线模型中的局部吸收密度接近零，结果接近均一背景。该图用于说明两点：

• Absorption Density 只有在结构内部存在显著局部耗散时才会给出强对比
• 若图像几乎均一，应先回查 Absorptance 和 Layer Absorption，确认是否确实缺少局部吸收

深度热图无明显结构，并不等于结果错误。它可能仅表示该基线结构在当前波段内局部损耗很弱。

与 Layer Absorption 的关系

推荐判读顺序：

1. 用 Absorptance 确认是否存在显著总吸收。
2. 用 Layer Absorption 定位问题层。
3. 用 Absorption Density 与 Electric Field 判断层内位置和场增强区域。

推荐扫描顺序

与优化器的关系

深度探测器的标准位置在优化之后。先用 R / T / A 建立候选结构，再用深度结果检查局部场分布是否合理。

结论边界

• 深度探测器适用于一维分层结构的内部场量分析。
• 当前结果不应用于横向图形结构、散射结构或二维、三维模式分析。
• Refractive Index 主要用于结构背景，不单独作为性能判据。

案例入口

具体结构与完整流程见 Case Studies。后续案例将覆盖寄生吸收定位、界面模、腔增强吸收和优化后深度回查等主题。

下一步

当前 Analysis 章节已经覆盖三类主要探测器。继续阅读 Case Studies，进入具体应用场景的完整配置、扫描与优化流程。