全向反射器
A dielectric omnidirectional reflector
作者： Y. Fink、J. N. Winn、S. Fan、C. Chen、J. Michel、J. D. Joannopoulos、E. L. Thomas
期刊： Science 282(5394), 1679–1682（1998） · 对照目标： Figure 4
只用九层聚苯乙烯与碲交替堆叠，10–15 um 这一整段就能在 0° 到 80° 的全部入射角和两种偏振下同时保持高反射——不需要对准某个角度。
本案例按论文给出的材料、层厚和层序建一个九层膜，在 0°、45° 和 80° 下各算一次 TE / TM 反射率，与论文 Figure 4 的五个子图逐张对照。
法向入射下，10–15 um 已经落在一段连续的高反射平台里。
背景
“全向反射器”说的不是某一个角度上的高反射峰，而是一段对入射角和偏振都稳定的反射带。对红外多层膜来说，这意味着器件不必依赖精确的单角度对准，就能在较宽角锥内维持高反射。
论文给出的参数可以直接转写成一维膜系：材料体系 PS-Te，9 层，以 Te 起始交替堆叠，Te = 0.8 um、PS = 1.65 um，目标反射带 10–15 um，角度范围 0°–80°。
结构
| 项目 | 模型取值 | 说明 |
|---|---|---|
| 入射介质 | Air | 与论文的空气侧反射测量一致 |
| 膜系结构 | Te / (PS / Te) x 4 | 共 9 层，等价于 Te / PS / Te / PS / Te / PS / Te / PS / Te |
| 顶部单层 Te | 0.8 um | 论文原始厚度 |
| 周期组内 PS | 1.65 um | 论文原始厚度 |
| 周期组内 Te | 0.8 um | 论文原始厚度 |
| Te 材料来源 | 内置数据库的 Caldwell-o 与 Sherman-o 两条 Te 数据拼接 | 拼接后覆盖 6–15 um，与 Figure 4 横轴一致 |
| PS 材料来源 | 内置数据库的聚苯乙烯条目 | 覆盖到 20 um，保留中红外吸收特征 |
| 出射介质 | Air | 先隔离九层膜本体的带隙行为 |
Air / PS-Te / Air 的自由膜近似，以便直接核对九层膜本体的角度带隙行为。这会影响绝对带边位置，但不改变「是否存在宽角高反射带」这一主结论。九层膜里有一个重复四次的周期，用 Layer Group 表达比手动堆八层更省事。步骤是：先保留顶部单层 Te，厚度设为 0.8 um，材料选 File 并上传拼接好的 Te 数据文件；删掉默认残留的独立基底层；再新增一个 Layer Group，重复次数设为 4，组内建 PS（1.65 um）与 Te（0.8 um）两层。
建好后的结构页，顶部是单层 Te Entrance，下方是重复的 PS-Te Period：
点开 Edit Group 核对周期单元的内容——重复次数 4，组内两层依次是 PS 与 Te：
6–15 um 横轴，所以这里先从两条数据库条目各取一段拼成一个文件，再用界面的上传控件载入。光学设置
| 设置 | 值 |
|---|---|
| 波长范围 | 6000–15000 nm |
| 步长 | 50 nm |
| 探测器 | 仅 Reflectance |
| 入射角 | 0°、45°、80° |
| 偏振 | TE 对应 pRatio = 0，TM 对应 pRatio = 1 |
界面横轴单位是 nm，论文的 10–15 um 在结果页上对应 10000–15000 nm。
Optimize。页面下方若出现仅与 Optimize 有关的提示，可继续执行 Run。仿真结果与论文 Figure 4 对照
五组对照按论文 Figure 4 的子图顺序排列，每个条件给出一张软件结果页；论文子图请在原文中对照。
法向入射（0°）：
TE，45°：
TM，45°：
TE，80°：
TM，80°：
将上述结果与论文 Figure 4 并列观察，可得到以下结论：
- 法向下，
10–15 um工作带已处于连续高反射区内，说明九层结构已经形成有效带隙。 - 到
45°时，TE与TM仍然都是平台型高反射，而不是退化成窄峰响应，这与论文的“宽角高反射”结论一致。 - 到
80°时，TE仍维持较宽的平台；TM的短波侧带边开始更明显地移动，和论文中“全向带低频边界由 TM 支配”的物理图像一致。 - 结果页内部可见的局部凹陷主要来自
PS的吸收带，这一点也与论文对中红外吸收影响的描述相符。
因此，本轮复现已经对齐了论文最关键的现象学结论：该结构表现为一个在大角度下仍存在的反射带，而不是某个单一谐振峰。
偏差说明
两种材料都用数据库里的公开光学常数，不是 1998 年同一批样品的实测数据，所以吸收峰强度和细结构不会逐点一致；Te 文件由两条数据库条目拼接而成，在约 9 um 的过渡处可能有轻微线形折点。
模型采用自由膜近似，没有真实基底，因此绝对带边位置和局部线形比实测更理想化。模型也不含工艺公差、界面粗糙度和厚度漂移。