Purcell 效应
只改变发光层到金属电极的距离,发光寿命也可能变化,即使材料配方、浓度和本征量子产率完全相同。反射场返回发光体后,会改变它能够耦合到的电磁态和总衰减速率。
这种由光学环境调制自发发射的现象称为 Purcell 效应。它与微腔干涉来自同一层状电磁环境:微腔文章关注出射光的光谱和方向,本篇关注发光体本身的衰减动力学。
光学环境改变衰减速率
在均匀参考环境中,发光体的总衰减率为
式中, 是进入电磁通道的本征衰减率, 是材料内部非辐射衰减率, 是本征总衰减率, 是本征寿命, 是本征量子效率。
层状环境把电磁衰减率乘以 Purcell 因子 ,并近似保持材料非辐射率不变:
这里的“电磁通道”包括外部出光、衬底、波导、吸收和倏逝耦合。靠近金属时, 的增强可能主要进入吸收或 SPP,并不等于更多远场光子。
有效量子效率与寿命
用 消去两个本征分量后,总衰减率比为
其中, 是环境中与参考环境中的衰减率比。有效寿命和有效量子效率分别为
式中, 是光学环境中的有效寿命, 是进入任一电磁通道的有效量子效率。三条公式使用同一个 ,因此衰减率、寿命和有效量子效率不是可以彼此独立调节的参数。
| 条件 | 寿命 | 有效量子效率 | 效率判读 |
|---|---|---|---|
| 且 | 缩短 | 提高 | 仍需确认增强能量进入出光还是损耗通道 |
| 且 | 延长 | 降低 | 可能抑制某一取向或某一损耗通道,但总电磁衰减减弱 |
| 随 改变 | 恒为 1 | Purcell 只能改变寿命与通道分配,不能把 100% 再提高 | |
| 很大且 EVA/ABS 同时很大 | 通常显著缩短 | 可提高 | EQE 仍可能下降,因为增强主要流向金属损耗 |
因此,最大化 不是 OLED 光学优化目标。合理目标是提高目标出光通道的份额,同时控制波导、吸收和倏逝损耗。
Purcell 因子的波矢含义
Purcell 因子等于全部面内波矢上的归一化耗散功率积分:
式中, 是相对发光层波数归一化的面内波矢, 是单位 区间内的归一化耗散功率, 是波长, 是偶极在发光层内的位置, 表示偶极取向。积分同时包含传播、导波和倏逝区,因此 对波长、位置和取向都敏感。
水平与竖直偶极看到的反射场不同,通常具有不同的 与 。即使输入的取向比例固定为各向同性,环境调制后的发射贡献也会按 与 重新加权。强微腔可以增强水平偶极并抑制竖直偶极,使总出光更接近高 LEE 的水平分量。

宽带发光体的平均
Purcell 因子随波长变化。对一个具有光子数权重 的发光体,可先计算全谱平均
其中, 与 是计算波段, 是光子数谱权重, 是光谱平均 Purcell 因子。总体 、 和 再由 代入前述动力学公式得到。
和 都是非线性函数,直接平均逐波长的量子效率或寿命会得到另一种统计量。比较仿真与时间分辨实验时,应确认报告的是总体速率对应寿命,还是逐波长寿命的算术平均。
结果判读
| 结果量 | 直接含义 | 需要联合查看的量 |
|---|---|---|
| 电磁衰减相对参考环境的增强或抑制 | 功率耗散谱与各 Mode 份额 | |
| 总衰减率比 | 与 | |
| 激子进入任一电磁通道的比例 | NRA 与出光通道份额 | |
| 环境调制后的寿命 | 本征寿命与实验时间分辨口径 | |
| TOC/BOC | 真正越过外部边界的份额 | 转换效率 才能得到器件 EQE |
下一步
阅读发光结构,把五篇原理中的发光层、发光体、光谱和探测量落实为可运行模型。
参考
- Purcell, E. M. Spontaneous Emission Probabilities at Radio Frequencies. In Confined Electrons and Photons; Springer, 1995; p 839.
- Chance, R. R.; Prock, A.; Silbey, R. Molecular Fluorescence and Energy Transfer near Interfaces. Adv. Chem. Phys. 1978, 37, 1–65.
- Wasey, J. A. E.; Barnes, W. L. Efficiency of Spontaneous Emission from Planar Microcavities. J. Mod. Opt. 2000, 47, 725–741.
- Cho, H.; Chung, J.; Song, J.; et al. Importance of Purcell Factor for Optimizing Structure of Organic Light-Emitting Diodes. Opt. Express 2019, 27, 11057.
- Meerheim, R.; Furno, M.; Hofmann, S.; Lüssem, B.; Leo, K. Quantification of Energy Loss Mechanisms in Organic Light-Emitting Diodes. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 275.