更新日志

3.0.0

容差分析与稳健设计

• 新增：容差分析，评估膜厚、折射率等生产误差对光学性能的影响。
• 新增：自定义合格标准，查看合格率、性能分布和光谱波动范围。
• 新增：敏感度与最坏情形分析，识别关键误差项和不利组合。
• 新增：稳健优化，寻找对误差更不敏感的设计，并支持独立验证。

OLED 发光分析

• 新增：峰值强度、峰值波长和 FWHM 计算，支持独立结果页查看及发射光谱图标注。
• 扩展：绝对发光量计算，支持亮度、电流效率和蓝光指数等结果。
• 新增：角度色移、亮度保持率、半值角、角度 FWHM 和朗伯因子分析。
• 新增：内部角分布，查看出光、基底、波导和吸收通道的角功率分布。

参数优化与扫描

• 扩展：OLED 优化目标，覆盖光谱、颜色、效率和角度特性。
• 新增：多初始值搜索方法，提升全局最优解搜索能力。
• 扩展：支持导入实测反射、透射和吸收曲线进行拟合，支持 AI 辅助识别数据列。
• 新增：同步参数扫描，支持多个参数联动或反向变化。

颜色与光度分析

• 扩展：反射与透射色分析，支持 Lab、ΔE00 等指标。
• 扩展：色温与光源质量分析，支持 CCT、Duv、CRI 和 Rf 等指标。
• 新增：ISO 9050 可见光透射比与反射比计算。

材料库与案例

• 新增：Aulika OLED 材料库，包含 17 种化合物、32 个材料变体。
• 扩展：案例库新增 7 个案例，总数增至 18 个，覆盖容差、稳健优化、同步扫描及 OLED／QLED／PeLED 设计。

AI 助手

• 扩展：支持读取和分析已有仿真结果，以及容差、敏感度和稳健优化等操作。

结构展示与操作

• 扩展：3D 结构支持自定义颜色、透明度及发光层展示效果。
• 扩展：相位与椭偏结果支持角度单位及显示约定切换。
• 新增：拖放模型文件加载。
• 扩展：配置合法性检测，支持从问题列表直接定位配置项。