近红外光疗 OLED 的微腔谐振波长设计

Park 等(2022):近红外光疗 OLED 的传输层厚度腔模图与正面归一化电致发光谱
作者Luke Cole

Cell proliferation effect of deep-penetrating microcavity tandem NIR OLEDs with therapeutic trend analysis

作者: Yongjin Park、Hye-Ryung Choi、Yongmin Jeon、Hyuncheol Kim、Jung Won Shin、Chang-Hun Huh、Kyoung-Chan Park、Kyung-Cheol Choi

期刊: Scientific Reports 12, 10935(2022) · 对照目标: Figure 1c 与 Figure 3

皮肤对 700 nm 以上的光散射更弱,同样功率下照射得更深,所以用于光疗的 OLED 要把发光峰推到近红外。谐振波长由几十纳米量级的传输层厚度决定:空穴传输层厚十来纳米,谐振就从 730 nm 挪到 770 nm

本案例建三个器件——非腔单元件、非腔串联、微腔器件 A——先对照非腔器件的发光谱基线,再用一次二维扫描复现论文 Figure 3 的腔模厚度图,最后核对微腔器件 A 的峰位。

Park Figure 3——四个目标波长下,正面发光强度极大值随空穴传输层与电子传输层厚度的分布。Park 等,Scientific Reports 12, 10935(2022),Figure 3CC BY

四张子图各有两条平行亮脊,分别对应一阶与二阶腔模。目标波长从 710 nm 增加到 770 nm 时,两条脊线整体向更厚的传输层移动。

背景

微腔 OLED 的正面出射谱是发光体本征发光谱与腔增益的乘积,腔增益由两个金属镜之间的 Fabry–Perot 共振和发光点到阴极的双光束干涉共同决定。

论文用到三类器件。以 ITO 为阳极的非腔器件没有前反射镜,正面谱形主要由发光点到 Al 阴极的距离决定,用来校验发光谱输入。把 ITO 换成 30 nm Ag 之后前后两面都成为反射镜,谐振条件由空穴传输层与电子传输层的厚度决定,正面谱被压缩到腔模附近。器件 A 是单发光单元的微腔器件,实测峰位 727 nm

结构

三个器件的层序如下,从玻璃基底侧起。730 nm 光学输入是本次实际使用的插值结果。

非腔单元件非腔串联微腔器件 A730 nm 光学输入
玻璃基底1 mm1 mm1 mmn=1.52n=1.52k=0k=0,按非相干处理
ITO 阳极150 nm150 nm内置数据库的同名条目
Ag 半透明阳极30 nmn=0.1479n=0.1479k=4.7456k=4.7456
MoO₃ 空穴注入层10 nm10 nm10 nmn=1.9792n=1.9792k=0k=0
NPB 空穴传输层40 nm40 nm90 nmn=1.7443n=1.7443k=0.0025k=0.0025
Bebq₂:Ir(piq)₃ 发光层30 nm30 nm30 nmAlq₃ 代理,n=1.6985n=1.6985k=0k=0
Alq₃ 或 Alq₃:LiH 电子传输层20 nm20 nm40 nmn=1.6985n=1.6985k=0k=0
MoO₃ 电荷产生层10 nmn=1.9792n=1.9792k=0k=0
NPB 第二单元空穴传输层40 nmn=1.7443n=1.7443k=0.0025k=0.0025
Bebq₂:Ir(piq)₃ 第二发光层30 nmAlq₃ 代理,n=1.6985n=1.6985k=0k=0
Alq₃:LiH 第二单元电子传输层20 nmn=1.6985n=1.6985k=0k=0
Liq 电子注入层1 nm1 nm1 nmn=1.65n=1.65k=0k=0
Al 阴极100 nm100 nm100 nmn=1.6884n=1.6884k=7.1665k=7.1665

层厚全部取自论文 Methods,四项由本案例补上:玻璃基底取 1 mm 并按非相干层处理;ITO 取 150 nm;Bebq₂ 无公开光学数据,用同为金属喹啉类螯合物、在红光与近红外区 k0k\approx0 的 Alq₃ 代理;掺杂 2 wt% LiH 的 Alq₃ 按光学上等同于 Alq₃ 处理。

非腔单元件,第一层 1 mm 玻璃带非相干标记:

非腔串联器件多出的四层位于第一单元的电子传输层与 Liq 之间,两个发光层各带一个发光体:

微腔器件 A 把 ITO 换成 30 nm Ag,并把 NPB 加厚到 90 nm、Alq₃ 加厚到 40 nm

光学与发光设置

三个模型共用同一套发光与探测器设置,只有结构不同。

设置
发光点位置发光层中心,Delta 分布
发光谱论文 Figure S1 的 Ir(piq)₃ 薄膜光致发光谱数字化结果,峰 631.5 nm
Spectrum UnitPower
偶极取向Isotropic(论文未给; 出射只由水平偶极贡献,取值不影响归一化谱)
量子效率、转换效率与倍率均取 1
串联器件两个发光单元的相对强度等权(论文未给)
探测器Emission Intensity + Propagation R
波长采样Sweep400–800 nm,步长 2 nm
出射角Single

对照量取 Normalized Spectrum 视图的归一化谱,以及由该光谱派生的 Peak Wavelength 与 Envelope FWHM。

Figure 3 的厚度图在器件 A 的层序上用 Sweep 生成:NPB 厚度 20–310 nm、步长 5 nm,Alq₃ 厚度取需要对照的各个值,两次作业合计 472 个厚度组合。

本案例用 Run 得到单个器件的光谱,用 Sweep 得到二维厚度图,不使用 Optimize

仿真结果与 Figure 1c、Figure 3 对照

非腔器件的发光谱基线

论文 Figure 1c 给出非腔单元件与非腔串联器件的实验谱以及它自己的仿真谱:

Park Figure 1——非腔器件的电学与光学性能,其中子图 c 为本案例对照的归一化电致发光谱(实验与仿真)。Park 等,Scientific Reports 12, 10935(2022),Figure 1CC BY

三条曲线叠在同一坐标里:

非腔单元件与非腔串联器件的归一化电致发光谱,论文实验、论文仿真与 Dreapex TMM 三条曲线叠加
非腔器件的归一化电致发光谱对照。黑线为论文实验,蓝虚线为论文仿真,红线为 Dreapex TMM。论文数据由 Park 等 Figure 1c 数字化;Dreapex TMM 数据来自本案例真实计算;图形独立绘制CC BY 4.0(独立绘制)

软件里的原始结果。非腔单元件:

非腔串联器件,670–720 nm 的长波肩明显抬高:

对照量论文实验论文仿真Dreapex TMM相对论文实验
单元件峰位630.1 nm623.4 nm630.7 nm+0.5 nm
单元件包络半高全宽88.0 nm73.0 nm81.4 nm−6.6 nm
串联峰位626.4 nm624.7 nm632.4 nm+6.0 nm
串联包络半高全宽102.6 nm97.0 nm98.9 nm−3.7 nm

580–778 nm 区间内逐点计算的归一化谱形均方根偏差:单元件相对论文实验 7.8 %、相对论文仿真 3.6 %;串联器件相对论文实验 4.1 %、相对论文仿真 5.3 %。作为参照,论文自身仿真与其实验的距离是单元件 9.6 %、串联 3.1 %

腔模厚度图

Figure 3 的横轴标注为 HTL(MoO₃ + NPB) Thickness,但按 NPB 单层厚度读数才与论文自身的器件参数自洽:器件 A 的 NPB 为 90 nm、Alq₃ 为 40 nm、实测峰位 727 nm,而在目标波长 730 nm 的子图中,Alq₃ = 40 nm 一行的一阶脊线正位于横轴 89.4 nm。按 MoO₃ 与 NPB 之和读取会引入 10 nm 的系统偏移。

论文的原图:

Park Figure 3——四个目标波长下,正面发光强度极大值随空穴传输层与电子传输层厚度的分布。Park 等,Scientific Reports 12, 10935(2022),Figure 3CC BY

取电子传输层 80 nm 一行,把二维图切成剖面与扫描结果叠放:

电子传输层为 80 nm 时,四个目标波长下的正面强度随空穴传输层厚度的剖面,论文读图值与 Dreapex TMM 结果叠加
电子传输层为 80 nm 时的腔模剖面对照。黑线为论文 Figure 3 读图值,红线为 Dreapex TMM 按 NPB 厚度的扫描结果。论文数据由 Park 等 Figure 3 数字化;Dreapex TMM 数据来自本案例真实扫描;图形独立绘制CC BY 4.0(独立绘制)
腔序比较点数平均偏差均方根偏差最大偏差
一阶16+0.16 nm1.56 nm3.20 nm
二阶20+0.47 nm1.62 nm3.70 nm
合计36+0.33 nm1.59 nm3.70 nm

36 个极值点的最大偏差 3.70 nm,小于论文数据游标本身 10 nm 的网格。电子传输层为 80 nm 时,一阶与二阶脊线的间距为 202.1209.5215.2222.5 nm,对应 710730750770 nm;半波光程条件给出的解析值为 203.6209.3215.0220.8 nm,最大差 1.7 nm

微腔器件 A 的峰位

90 nm NPB 与 40 nm Alq₃ 建好器件 A 后跑一次 Run

对照量论文Dreapex TMM偏差
电致发光峰位727 nm726.84 nm0.16 nm
包络半高全宽52 nm69.1 nm+17.1 nm

峰位与论文相差 0.16 nm。半高全宽只作记录:论文的 52 nm 是在 30 mA/cm² 下实测得到的。

偏差说明

发光层用 Alq₃ 代理 Bebq₂,后者没有公开光学数据。峰位对该折射率的灵敏度约为每单位折射率 +87 nm;发光层只有 30 nm,代理对腔模脊线位置的影响约 0.9 nm,小于实测的 1.59 nm 均方根偏差。

非腔串联器件的峰位偏高 6.0 nm。论文实验显示串联相对单元件蓝移 3.8 nm,而论文自身的光学模型给出红移 1.4 nm,本次给出红移 1.7 nm——两套独立的传输矩阵计算一致到 0.3 nm,同时与该实验数字反号。论文未给出两个发光单元的相对强度与实际复合区位置,两者都会改变合成谱的峰位。

ITO 厚度是本案例补上的假设;在 80–220 nm 全区间内单元件峰位只摆动 3.9 nm,且微腔器件与 Figure 3 的对照不含 ITO。

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